數(shù)學(xué)小神探故事：芯片測(cè)試
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)資源 文章作者：奧數(shù)網(wǎng)整理 2019-05-28 21:10:45
數(shù)學(xué)小神探啟動(dòng)啦！大家快來(lái)跟著我們一起開(kāi)動(dòng)小腦筋吧！
數(shù)學(xué)小神探故事：芯片測(cè)試
芯片測(cè)試：有2k塊芯片，已知好芯片比壞芯片多.請(qǐng)?jiān)O(shè)計(jì)算法從其中找出一片
好芯片，說(shuō)明你所用的比較次數(shù)上限.
其中：好芯片和其它芯片比較時(shí)，能正確給出另一塊芯片是好還是壞.
壞芯片和其它芯片比較時(shí)，會(huì)隨機(jī)的給出好或是壞。
【答案請(qǐng)看下一頁(yè)】
相關(guān)文章
- 小學(xué)1-6年級(jí)作文素材大全
- 全國(guó)小學(xué)升初中語(yǔ)數(shù)英三科試題匯總
- 小學(xué)1-6年級(jí)數(shù)學(xué)天天練
- 小學(xué)1-6年級(jí)奧數(shù)類(lèi)型例題講解整理匯總
- 小學(xué)1-6年級(jí)奧數(shù)練習(xí)題整理匯總
- 小學(xué)1-6年級(jí)奧數(shù)知識(shí)點(diǎn)匯總
- 小學(xué)1-6年級(jí)語(yǔ)數(shù)英教案匯總
- 小學(xué)語(yǔ)數(shù)英試題資料大全
- 小學(xué)1-6年級(jí)語(yǔ)數(shù)英期末試題整理匯總
- 小學(xué)1-6年級(jí)語(yǔ)數(shù)英期中試題整理匯總
- 小學(xué)1-6年語(yǔ)數(shù)英單元試題整理匯總
點(diǎn)擊查看更多
